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深科技公布“一種物料顆粒收集裝置及物料表面顆粒收集測試系統(tǒng)”專利 時快訊

2025-12-31 19:02:35 來源:和訊網(wǎng)


(資料圖片僅供參考)

天眼查APP顯示,近日,深圳長城開發(fā)科技股份有限公司申請的“一種物料顆粒收集裝置及物料表面顆粒收集測試系統(tǒng)”專利公布。 摘要顯示,本發(fā)明公開了一種物料顆粒收集裝置及物料表面顆粒收集測試系統(tǒng),包括箱體、載物平臺和風(fēng)棒,箱體為前部設(shè)有對開門的中空立方體,載物平臺橫向固定在箱體的中部,風(fēng)棒固定在與箱體底面垂直的移動立柱上,風(fēng)棒中面對載物平臺的一端設(shè)有出風(fēng)口,壓縮空氣通過出風(fēng)口對待測物料表面進(jìn)行吹掃,將待測物料表面的物料顆粒吹掃到整個箱體內(nèi),風(fēng)棒包括設(shè)置在載物平臺上方的上風(fēng)棒和設(shè)置在載物平臺下方的下風(fēng)棒,上風(fēng)棒和下風(fēng)棒平行。本發(fā)明引入了分別位于待測物料上、下兩邊能夠?qū)Υ郎y物料表面吹風(fēng)的風(fēng)棒,使物料顆粒收集裝置能夠充分收集待測物料表面實際存在的物料顆粒,最終實現(xiàn)快速無損檢測物料表面的微米級和亞微米級顆粒潔凈度水平的目的。

標(biāo)簽: 物料表面顆粒 物料顆粒 物料表面實際